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SE-RD-STD系列全光谱椭偏仪 其他

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无锡浩辉者新材料科技有限公司
产品编号:19883
产品标题:SE-RD-STD系列全光谱椭偏仪 其他
联系方式: 17717692194
联系我们: 无锡惠山经济开发区堰新路311号1号楼1518-12室
发布时间:2024-11-08 22:28
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全光谱椭偏仪——

●桌上型膜厚量测设备

●安装移动迅速便捷

●适用于所有非金属膜质

●多样化的应用选择

●工业标准数据端口

全光谱椭偏仪——

规格

技术指标

衬底类型

透明或半透明衬底

光源

氙灯

光源寿命

>8760H

光谱范围

300-1000nm

入射角

70度(40度-90度每5度可调)

光斑直径

100x120μm(Min80x100um)

测量时间(不对焦)

<2S(单层模型),<约6s(多层模型)

膜厚测量范围(单层膜)

1nm-15μm

对焦

自动讯号对焦

膜厚测量精度

<0.5nm(基于标片)

折射率测量精度

<0.005(基于标片)

厚度重复性精度:

<0.5A(1sigma 标准差,10times)(基于标准片)

折射率重复性精度:

<0.0005(1sigma标准差,10times)(基于标准片)

可测试膜层数量

≥2层

标片数量

2片

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